Verständnis der DoD (Deep of Discharge) Angabe

Ausgehend von dieser Diskussion und da das ganze immer mal wieder falsch verstanden wird, hier eine Erklärung wie man die DoD (Deep of Discharge) Angabe richtig versteht. Ich mag eigentlich keine KI, aber damit ich nicht gefühlt noch 1000 Seiten schreiben muss habe ich sie mal zur Hilfe genommen damit das schneller geht. Und wie man schon am Anfang sehen kann muste ich auch erstmal die KI aufklären :upside_down_face: :nerd_face:.

Damit ihr das lesen könnt müst ihr auf das Bild klicken, dann rechts Klick und "Grafik in neuem Tab öffnen" und noch einen Klick zum vergrößern über das "+" in der Lupe.

Witzig, halt KI:

Zweck der DoD-Angabe (warum sie existiert)
DoD ist kein Komfortwert, sondern ein Lebensdauer- und Stressparameter.

  • elektrochemische Belastung
  • Kupferauflösung (bei tiefem SoC)
  • SEI-WachstumLithium-Plating (bei hohem SoC)
  • Zyklenfestigkeit

All diese Effekte hängen NICHT vom Nutzungsfenster ab,
sondern vom tiefsten erreichten SOC = maximaler DoD.

Dabei hatte ich Dir doch genau die Untersuchungsergebnisse angeführt, dass zumindest die beiden letzten Punkte ganz eindeutig vom Nutzungsfenster abhängen

Nach Deinem Verständnis ist "DoD" eigentlich nur der "minimale SOC" und nach Deiner und Meinung der KI ist das angeblich alles Betriebsart "90% DoD" mit gleichem Akkusstress /gleicher Alterung da ja: "NICHT vom Nutzungsfenster abhängig":
100% - 10% ... über 500 Zyklen
90% - 10% ... über 1500 Zyklen
80% - 10% ... über 3000 Zyklen
70% - 10% ... 4500 Zyklen

Ich sehe hier schon eine deutliche Abhängigkeit vom Nutzungsfenster. Dass zum "Nutzungsfenster" immer auch die Angabe entweder des höchsten oder tiefsten SOC gehört, ist dabei eigentlich logisch.

Was nicht vom Nutzungsfenster abhängt ist der tiefste SOC 0% und der höchste SOC 100% - das sind absolute Grenzwerte.